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X熒光測厚儀的原理

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X熒光測厚儀的原理

物質經X射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

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發布人：2009/3/4 10:53:001778 發布時間：2009/3/4 10:53:00 此新聞已被瀏覽:1778次